Analiza de semnatura ca metoda de compresie in testarea circuitelor integrate

1. NOTIUNI TEORETICE 2. INTRODUCERE 2.1 Defecte, Erori 2.2 Cauzele Defectelor 2.3 Tipuri De Defecte 2.4 Modele De Defecte Functionale 3. SIMULAREA DEFECTELOR 3.1 Tehnici Generale De Simulare A Defectelor 3.2 Simularea Ssf In Clc 4. METODE DE GENERARE A VECTORILOR DE TEST 4.1 Metoda Diferentei Booleene 4.2 Metoda Activarii Unei Cai 4.3 Metoda Caii Critice 4.4 Generarea Testelor Aleatoare 4.5 Generarea Secventelor De Test Pseudoaleatoare Folosind Registri De Deplasare Liniari Cu Reactie 5. METODE SI TEHNICI DE COMPRESIE A DATELOR 5.1 Metoda De Compresie Bazata Pe Numararea Valorilor Binare 5.2 Metoda De Compresie Bazata Pe Numararea Tranzitiilor 5.3 Metoda De Compresie Bazata Pe Testarea Sindromului 6. ANALIZA PRACTICA 6.1 Metoda De Compresie Prin Analiza De Semnatura 6.2 Aplicatii Practice A Tehnicii De Compresie Prin Analiza Semnaturii 7. ANEXE 8. BIBLIOGRAFIE